当前位置：网站首页-微纳器件的测量与表征
- 低温探针台
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仪器简介： 温度范围：4.3K-400K。 磁场范围：-2.5-2.5T。 探针：2个射频探针，1个直流探针，1个激光发生光纤，1个衬底接口。
- 高温探针台
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仪器简介： 直流与射频测试，可调温度范围300K-500K
- 半导体参数分析仪-安捷伦B1500A
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仪器简介： 半导体直流参数测试仪是研究半导体的运输性质的重要设备，主要对半导体器件进行电流-电压，电容-电压等参数测量。
- 网络分析仪
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仪器简介： 网络分析仪可以测量S参数、电压驻波比、阻抗（或导纳）、衰减（或增益）、相移和群延时等传输参数以及隔离度和定向度性能参数等，可以对元器件表征，信号，材料等特性进行...
- 傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）
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仪器简介： 傅里叶变换红外光谱仪包含反射和透射两种测量方式，测量光谱范围为 20000cm-1～40cm-1， 分辨率可达0.16cm-1。
- 原子力显微镜（AFM）
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仪器简介： 测量模式包含：contact,dynamic,MFM,STM等。xy面最大扫描范围30um，z方向扫描精度可达0.01nm。可进行变温测量，温度范围为-50℃-...
- 量子器件噪声测试系统
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仪器简介： 量子器件噪声测试系统由测量控制单元，测量电阻单元以及主控电脑组成，可以对量子器件进行低频(1/f)噪声测试。